1. Advances in speckle metrology and related techniques
پدیدآورنده : edited by Guillermo H. Kaufmann.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Speckle metrology.
2. Advances in speckle metrology and related techniques
پدیدآورنده : edited by Guillermo H. Kaufmann
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : ، Speckle metrology
رده :
TA
1555
.
A38
2011
3. Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
پدیدآورنده : Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Diffraction patterns--Data processing,، Image processing--Data processing
رده :
QC
415
.
F88
2014
4. Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms and applications
پدیدآورنده : Servin, Manuel
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : ، Diffraction patterns,، Optical measurements,، Interferometry
رده :
QC
39
.
S47
2014
5. Interferogram analysis for optical testing
پدیدآورنده : / Daniel Malacara, Manuel Servin, Zacarias Malacara
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Optical measurements,Interferometry,Interferometers,Diffraction patterns- Data processing
رده :
QC367
.
M25
2005
6. The Mexican - Americans : an awakening minority
پدیدآورنده : / (by) Manuel P. Servin
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)
موضوع : Mexsicans in the United States - Addresses, essays, lectures
رده :
917
.
309746
Se-M